Parametertests

Elemaster bietet verschiedene Lösungen für Abnahmeprüfungen, um seinen Kunden die volle Funktionsfähigkeit der Produkte sowie höchste Langzeit-Zuverlässigkeit zu gewährleisten.

Wir verfügen über modernste Maschinen für In-Circuit-Tests (ICT) mithilfe der Nagelbett- und Flying-Probe-Technologie.

Das Test-Engineering-Team von Elemaster besitzt umfassende Kompetenzen in der Entwicklung von Lösungen für ICT-Prüfungen sowohl mit Nagelbett-Testvorrichtungen wie:

  • Keysight (Agilent)
  • Teradyne
  • GenRad
  • SPEA

als auch mit Flying-Probe-Testsystemen:

  • Spea 4040
  • Spea 4050
  • Spea 4060

Erweitert wird der Prozess durch die On-Board-Programmierung und das Boundary-Scan-Verfahren, um höchste Qualität bei der Produktion zu gewährleisten.

Der Boundary-Scan-Test kann mithilfe verschiedener Ansätze durchgeführt werden:

  • eingebettet in die Sequenz der In-Circuit-Prüfung
  • Standalone mithilfe der XJTAG-Plattform
  • eingebettet in die Sequenz der Funktionsprüfung

UNSERE DIENSTLEISTUNGEN

Die von Elemaster angebotenen Prüfungslösungen sind in der folgenden Tabelle zusammengefasst:

ANWENDUNG VORHANDENE MASCHINEN
Parametertest (ICT) mit Flying-Probe Niedrigkostenansatz für Low-/Mid-Volume-Produktfertigung – elektrische Fehlersuche 4/6 Sonden Flying-Prrobe-Tester von SPEA (4040/4060)
Parametertest (ICT) mit Nagelbett Medium- bis High-Volume Complex-Produktfertigung – elektrische / Funktionsfehlersuche Spea (Unitest/Easytest/3030)
Agilent 3070
Teradyne Spectrum/1240
Genrad 22xx
Hochspannungsprüfung (Sicherheit) Regulatorische Validierung (z.B. nach CE, UL, CSA) Prüfstände mit ABAG-Technik
Kabel-Scan-Test Komplexe Rack- und Backplane-Prüfung Verschiedene Lösungen von WEE für Nieder-/Hochspannungsprüfung
Run-In- / Burn-In-Test Design-Validierung und Zuverlässigkeitsprüfung Klimaschränke (+/- 20 °C/min) von -40 bis +90 °C und begehbare Prüfkammern