Essais paramétriques

Elemaster propose différentes solutions de test afin de garantir à ses clients une fonctionnalité complète du produit et une fiabilité maximale dans le temps.

Nous disposons des machines les plus avancées pour les In Circuit Test (TIC) utilisant la technologie des “Bed of Nails” (lit à clous) et les “Flying Probes” (sondes volantes).L’équipe d’ingénierie de test d’Elemaster possède une grande compétence dans le développement de solutions de test des TIC, tant sur des plates-formes à lit à clous comme :

  • Keysight (Agilent)
  • Teradyne
  • GenRad
  • SPEA

que sur les plates-formes sondes volantes :

  • Spea 4040
  • Spea 4050
  • Spea 4060

Le processus est complété par la programmation On-Board et Boundary Scan pour assurer une production de la plus haute qualité.

Le test Boundary Scan peut être effectué selon différentes approches :

  • Intégré dans la séquence de test EN CIRCUIT
  • Autonome via la plate-forme XJTAG
  • Intégré dans la séquence de test fonctionnel

NOS SERVICES

Les solutions de test proposées par Elemaster sont résumées dans le tableau :

APPLICATIONMACHINES DISPONIBLES
Tests paramétriques (TIC) avec sonde volanteApproche à faible coût pour la fabrication de produits à faible/moyen volume – identification des défauts électriques4/6 sondes volantes de Spea (4040/4060)
Tests paramétriques (TIC) avec lit à clousFabrication de produits complexes en volume moyen à élevé – identification des défauts électriques/fonctionnelsSpea (Unités/Easytest/3030)
Agilent 3070
Teradyne Spectrum/1240
Genrad 22xx
Tests de haute tension (Sécurité)Validation réglementaire (par exemple, exigences CE, UL, CSA)Bancs d’essai personnalisés avec instruments ABAG
Tests de balayage de câbleEssais complexes de racks et de fonds de panierUne solution différente des DEEE pour les tests de basse/haute tension
Tests de rodage / brûlageValidation de la conception et tests de fiabilitéChambres à haute température transitoire (+/- 20 °C/min) de -40 à +90 °C et chambres walk-in