Elemaster提供不同的检测解决方案，以保证其客户产品的全部功能和长期的最大可靠性。
我们配有最先进的在线测试（ICT）设备，使用“Bed of Nails”（钉床）和Flying Probes（移动探头）技术。
Elemaster的测试工程团队在ICT检测解决方案的开发方面拥有广泛的专业知识，无论是钉床平台，例如：
- Keysight (Agilent)
- Teradyne
- GenRad
- SPEA
还是移动探头平台：
- Spea 4040
- Spea 4050
- Spea 4060
该过程由On-Board和BoundaryScan编程阶段进行集成，以确保最高质量的生产输出。
BoundaryScan测试可通过以下不同方法进行：
- 嵌入在“在线测试“检测序列中
- 通过XJTAG平台独立进行
- 嵌入在功能检测序列中
我们的服务
下表总结了Elemaster提供的检测解决方案：
| 应用 | 可用机器 | |
| 采用移动探头进行的参数测试（ICT） | 中小批量产品制造的低成本方法 – 电气缺陷识别 | 4/6个来自Spea的移动探头（4040/4060） |
| 采用钉床进行的参数测试（ICT） | 中到大批量复杂产品制造 – 电气/功能缺陷识别 | Spea (Unitest/Easytest/3030) Agilent 3070 Teradyne Spectrum/1240 Genrad 22xx |
| 高电压测试（安全性） | 规则验证（即CE、UL、CSA要求） | 带有ABAG仪器的定制测试台 |
| 电缆扫描测试 | 复杂机架和底板测试 | 来自WEEE的低/高电压测试的不同解决方案 |
| 运转测试/老化测试 | 设计确认和可靠性测试 | 高瞬变室（+/- 20℃/min），从-40℃到+90℃，在室中行走 |